Российские исследователи разработали новый подход для осуществления ближнепольной микроволновой микроскопии, который позволяет изучать структуру и состав различных материалов, а также искать дефекты в структуре сверхпроводниковых кубитов (квантовых битов). Об этом сообщила пресс-служба НИТУ МИСИС.

"Этот метод микроскопии используется во многих сферах. Ближнепольные СВЧ-микроскопы в том числе можно использовать для изучения паразитных двухуровневых систем в подложках, на которых размещены сверхпроводниковые квантовые биты. Изучение "злейшего врага" кубитов является крайне важной и амбициозной задачей", - пояснил ведущий инженер дизайн-центра квантового проектирования НИТУ МИСИС (Москва) Андрей Саблук.